黑光輻照計(jì)紫外紫光藍(lán)光照度計(jì)

更新時(shí)間：2024-10-20

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廠商性質(zhì)：代理商

生產(chǎn)地址：深圳

簡(jiǎn)要描述：

UVV405黑光輻照計(jì)紫外紫光藍(lán)光照度計(jì)適用于高分子材料老化、植物栽培研究、紫外線LED強(qiáng)度、油墨粘合劑固化等。探測(cè)器的光譜：360nm到460nm（峰值405nm，50%以上透過率波段382nm到428nm）。顯示： 3 3/4位液晶顯示屏，MAX大讀數(shù)3999。

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產(chǎn)品介紹

UVV405黑光輻照計(jì)紫外紫光藍(lán)光照度計(jì)

適用于高分子材料老化、植物栽培研究、紫外線LED強(qiáng)度、油墨粘合劑固化等。

探測(cè)器的光譜：360nm到460nm（峰值405nm，50%以上透過率波段382nm到428nm）。

顯示： 3 3/4位液晶顯示屏，MAX大讀數(shù)3999。

測(cè)量范圍：0-400 mW/cm2，四檔位測(cè)量；400μW檔，4000μW檔，40mW檔，400mW檔（1000 μW/cm2 = 1 mW/cm2）

探測(cè)器波長(zhǎng)范圍：360nm – 460nm

探測(cè)器的頻譜：峰值405nm，50%以上透過率波段382 nm到428 nm

準(zhǔn)確度：±(8%R + 2dgt)，帶外區(qū)雜光小于0.1%

*在UVV光源下進(jìn)行校準(zhǔn)，并與標(biāo)準(zhǔn)UVV輻照計(jì)進(jìn)行比較

*特別測(cè)試環(huán)境下的射頻場(chǎng)強(qiáng)度小于3伏/米，頻率低于30兆赫